SN/T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分：电感耦合等离子体质谱筛选法
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基本信息
| 标准名称： | 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分：电感耦合等离子体质谱筛选法 |
| 英文名称： | Determination of organotin compounds in electrical and electronic equipment—Part 3:Screening by inductively coupled plasma mass spectrometry |
| 发布部门： | 国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2010-05-27 |
| 实施日期： | 2010-12-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家认证认可监督管理委员会 |
| 提出单位： | 国家认证认可监督管理委员会 |
| 归口单位： | 国家认证认可监督管理委员会 |
| 起草单位： | 中华人民共和国广东出入境检验检疫局、中华人民共和国山东出入境检验检疫局、中华人民共和国深圳出入境检验检疫局 |
| 起草人： | 赵泉、萧达辉、李政军、周明辉、翟翠萍、郑建国、刘莹峰、戚佳琳、刘志红 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2010-12-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本部分规定了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限(以锡计)为0.5mg/kg。
前言
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目录
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引用标准
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